電子負荷を使ったダイオードの可変サージ電流による破壊試験方法

ツェナーダイオードや整流用ダイオードなどの各種ダイオードの電気特性において、逆バイアス時のサージ電流における破壊試験が特性上評価が必要となります。
電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、逆バイアスサージ時のサージ電流と印加時間を任意に設定することで、各種ダイオードの破壊電流を再現することができ、電気特性を正確に評価および試験することが可能です。
保護素子に関して製品採用時のエビデンスのデータ取得などが簡単にできます。

テストイメージ

ダイオード破壊試験装置
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特長

  • 最小1μsのパルス電流の再現が可能。サージ電流としてより細かい特性評価に対応
  • 設定電流は16パターンまで。階段上の設定や電流バイアス時のパルスの再現も可能
  • TDKラムダ製の可変直流電源 Genesys+も販売可能。1.5kW~15kW、最大1500Aまで

関連製品

ハイエンド多機能電子負荷装置「Load Stationシリーズ」


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