固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社ESTシリーズは連続出力が可能で、アワーメータと組み合わせにより試験時間測定と、破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。モデルによってAC5kVとDC6kVのAC/DC兼用のV-t試験器としてもお使いいただけます。

固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社7700シリーズでは、最大999.9時間×9999ループまで試験時間設定と破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。

このアプリでは、汎用の直流電源、電子負荷等を使った半導体直流パラメータの簡易的な測定方法についてご紹介します。直流電源と電子負荷により駆動電流を急峻に変化させる試験（短パルス評価）、さらにFG（ファンクションジェネレータ）により電子負荷を制御し、サイン波形での試験（サイン半波評価）を行うことができます。

このアプリでは、ポストSiのパワー半導体としてますます高耐圧化が進んでいるSiC（シリコンカーバイト）とGaN（窒化ガリウム）の耐電圧試験に最適な10kV及び20kVの耐電圧試験器7700シリーズをご紹介します。