評価中のDUT破損リスクを低減する電子負荷とは

開発段階のDUT（被試験デバイス）は、性能評価を目的としていることから、過電流や過電力などの保護機能が十分に実装されていない場合があります。特に定格電力付近での立ち上がり評価では、電子負荷のオーバーシュート電流によってDUTが過電流領域に入り、破損につながる可能性があります。
そのため、評価に使用する電子負荷には、応答速度だけでなく電流応答の品位も求められます。ハイエンド多機能電子負荷「Load Fastシリーズ」は、業界唯一(※)のオーバーシュート電流確度範囲を仕様化し、オーバーシュートを抑えた理想的な電流応答を実現。抵抗負荷に近い特性により、評価中のDUT破損リスクの低減に貢献します。
（※当社調べ）

特長

• 抵抗負荷と同様の特性をもち。電流遅れのない高速な電流立ち上がりを実現
• 業界唯一！オーバーシュート電流の確度範囲を仕様化。理想的な電流応答を提供
• 最大スルーレート60A/µｓ。最小負荷応答500nsと高品位で理想的な電流応答

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