電子部品/材料/変成器/遮断器試験
評価中のDUT破損リスクを低減する電子負荷とは新着!!
電子負荷のオーバーシュート電流は、評価中のDUT破損につながる可能性があります。Load Fastシリーズはオーバーシュートを抑えた高品位な電流応答により、DUT破損リスクの低減と安全な評価環境の構築に貢献します。
高速電流応答電子負荷を用いた基板配線パターンのインダクタンス成分測定方法
CPUやGPUの急峻な負荷電流変動は、実装基板の配線インダクタンスによる電圧降下を引き起こし、動作安定性に影響を与えます。Load Fastシリーズは高速電流応答により実負荷環境を再現し、配線インダクタンスの推定や電源品質評価に最適です。
AIデータサーバで使用されるメモリデバイスの電源レギュレータ評価に最適な電子負荷
DDRやSSDなどのメモリ向けLDOレギュレータ評価では、高速に変化する負荷電流の再現が重要です。Load Fastシリーズは低電流領域でも高速電流応答を実現し、過渡応答評価に最適な電子負荷です。
力率改善コンデンサの評価可能な回生交流電子負荷
三相電力システムにおける力率改善の評価では、可変リアクトルや可変コンデンサを用いておりましたが、任意に変わる電圧・電流に応じて都度調整・設定が必要である為、評価において時間と労力がかかっておりました。交直両用回生電子Ene-phantシリーズでは交流電子負荷に無効電流の進み・遅れ位相制御機能を内蔵し、簡単に容量性負荷・誘導性負荷・抵抗負荷の模擬が可能です。
マルチチャンネル同期を使った多チャンネルPWM定電流電源
スイッチング電源の過電流保護試験では、電圧と電流をそれぞれ測定し、垂下特性をグラフ化して特性評価します。供試物であるスイッチング電源と直列に可変電源を挿入することで、電子負荷内部のインピーダンス(抵抗成分）をキャンセルさせ、0V付近までの垂下特性グラフの取得が可能となります。
スイッチング電源の０V付近の過電流保護垂下特性の取得方法
スイッチング電源の過電流保護試験では、電圧と電流をそれぞれ測定し、垂下特性をグラフ化して特性評価します。供試物であるスイッチング電源と直列に可変電源を挿入することで、電子負荷内部のインピーダンス(抵抗成分）をキャンセルさせ、0V付近までの垂下特性グラフの取得が可能となります。
直流電子負荷を使ったオーバーシュート電流の再現方法
電子負荷のLoadON時にオーバーシュート電流が発生させないことは、設計初期のスイッチング電源の評価において重要です。弊社電子負荷LoadStationシリーズでは、ダイナミックモードを利用することでオーバーシュート電流を再現することが可能です。
インダクタンス成分の再現可能な電圧変動模擬電源システム
直流電源にて固有の負荷における変動挙動を再現し、その変動挙動が発生した状態で駆動するDUTの評価では模擬可能な直流電源が必要となります。電圧変動だけであれば定電圧出力時に電圧変動可能な直流電源は市販されておりますが、インダクタンス成分を含んだ電源電圧変動ではインダクタンスへの充放電の模擬も必要となる為再現は困難です。
ELS-304電子負荷を用いた最適な高速電流応答の実現方法
急峻な高速電流応答（スルーレート：A/μs)のニーズは、DC/DCコンバータ以外に電子部品の評価に使われており、年々その要求は厳しくなっております。電子負荷を用いた方法が使われておりますが、負荷配線や電子負荷内部のインダクタンスの影響で、急峻な電流変化（di/dt）での応答速度が遅くなり、要求される電流応答の波形再現が困難です。
電子負荷を使ったダイオードの可変サージ電流による破壊試験方法
ツェナーダイオードや整流用ダイオードなどの各種ダイオードの電気特性において、逆バイアス時のサージ電流における破壊試験が特性上評価が必要となります。
電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、逆バイアスサージ時のサージ電流と印加時間を任意に設定することで、各種ダイオードの破壊電流を再現することができ、電気特性を正確に評価および試験することが可能です。