電子部品（電源）
評価中のDUT破損リスクを低減する電子負荷とは新着!!
電子負荷のオーバーシュート電流は、評価中のDUT破損につながる可能性があります。Load Fastシリーズはオーバーシュートを抑えた高品位な電流応答により、DUT破損リスクの低減と安全な評価環境の構築に貢献します。
高速電流応答電子負荷を用いた基板配線パターンのインダクタンス成分測定方法
CPUやGPUの急峻な負荷電流変動は、実装基板の配線インダクタンスによる電圧降下を引き起こし、動作安定性に影響を与えます。Load Fastシリーズは高速電流応答により実負荷環境を再現し、配線インダクタンスの推定や電源品質評価に最適です。
AIデータサーバで使用されるメモリデバイスの電源レギュレータ評価に最適な電子負荷
DDRやSSDなどのメモリ向けLDOレギュレータ評価では、高速に変化する負荷電流の再現が重要です。Load Fastシリーズは低電流領域でも高速電流応答を実現し、過渡応答評価に最適な電子負荷です。
小容量フィルムコンデンサのセルフヒーリングを発生させない耐電圧試験方法
フィルムコンデンサは絶縁破壊が起きても回復するセルフヒーリング機能がありますが、その際に内部抵抗が増加します。
耐電圧試験で電圧設定が不適切だと寿命に影響するため注意が必要です。AC 試験はピーク電圧が高くなるのに対し、DC 試験は設定電圧がそのままピークとなるため、予期せぬ高電圧が発生せず試験に適しています。
低出力DC/DCコンバータに最適な負荷ノイズが発生しない電子負荷
低出力タイプのDC/DCコンバータでは、出力電流が小さいため電子負荷の選定が重要です。一般的な電子負荷はノイズを発生させる場合がありますが、「Load Stationシリーズ」は負荷ノイズを抑え、正確にリップルノイズを測定できるため、評価に最適です。
大容量蓄電池の放電特性評価に最適な大容量直流電子負荷
大容量蓄電池（LiB）や燃料電池の放電特性を安全に評価するには、電圧や時間などの監視と、放電終了時の状態確認が重要です。
「QL-Dシリーズ」は、Vlimit機能や積算・時間測定機能を備え、設定値に応じた自動モード移行に対応しており、安全で正確な放電評価が可能です。
高電圧の標準切替器として使用可能なマトリックススキャナ
従来、高電圧向けの切替器には標準品がなく、手動操作や特注治具が必要で高コストかつ自動化が困難でした。SC6540シリーズは通信機能を活用することで高電圧切替器として利用可能で、定格AC5kV/DC6kV・3Aまで対応。複数チャンネルを自動で切り替えて試験が行え、モータステータなどに実負荷に近い高電圧・電流を各相に印加することができます。
電源障害に強い長期間連続運転可能な超高電圧V-t試験器
固体絶縁の破壊電圧は印加時間とともに低下するV-t特性があり、その評価にはV-t試験器が用いられます。当社の7700シリーズは超高電圧の連続出力に対応し、試験時間の測定や遮断電流の設定が可能な高機能V-t試験機です。UPSとの併用により、停電時も長期試験データを安全に保持できます。
電源障害に強い長期間連続運転可能なV-t試験器
固体絶縁の破壊電圧は印加時間が長くなると低下する現象（V-t特性）が知られており、V-t試験器を用いて寿命データを取得できます。
当社の3800シリーズは連続出力が可能で、アワーメータやUPSとの連携により、長時間・高信頼な試験が可能です。
PLCを用いた高電圧コネクタ高速耐電圧試験システム
高電圧コネクタの生産ラインでは短いタクトタイムが求められており、多機能安全試験器7800シリーズは短時間での試験と高速制御が可能です。複数台を使うことで、より効率的かつ迅速な試験が実現できます。