ツェナーダイオードや整流用ダイオードなどの各種ダイオードの電気特性において、逆バイアス時のサージ電流における破壊試験が特性上評価が必要となります。
電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、逆バイアスサージ時のサージ電流と印加時間を任意に設定することで、各種ダイオードの破壊電流を再現することができ、電気特性を正確に評価および試験することが可能です。

各種ヒューズの電気特性において、時間変化に対する電流耐量の測定が特性上評価が必要となります。電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、溶断電流と溶断時間を任意に設定し、各種ヒューズの電気特性を正確に評価および試験することが可能です。保護素子に関して製品採用時のエビデンスのデータ取得などが簡単にできます。