2023-07-05 / 最終更新日 : 2025-01-09 pe_admin バッテリー(二次電池)試験 無停電電源装置(UPS)の評価に最適。無効電力の再現可能な交流電子負荷 カーエアコン用のコンプレッサーは既存のエンジン駆動タイプに変わり、環境対応車（EV、HEVなど）に対応した、インバータ搭載型の電動コンプレッサーが採用されております。電動型となる為インバータ駆動用の直流電源が試験や評価に必要となります。外付けの場合、設置面積の確保が必要となりますが、弊社直流電源では背面にキャパシタバンクとして指定したコンデンサ容量をランドセルのように特注で実装することが可能です。
2021-12-22 / 最終更新日 : 2024-10-23 pe_admin リップルノイズ測定 オシロスコープを使ったリップルノイズの測定方法 オシロスコープでリップルノイズ測定する場合、入力抵抗を1MΩから50Ωにインピーダンス整合する必要があります。ただしオシロに内蔵されている抵抗器は0.5W程度しかなく5V以上の電圧を測定した場合、抵抗器が焼損しオシロが破損してしまうことがあります。 当社TRC-50F2は抵抗器と直列にコンデンサを挿入しており、直流分をカットし測定信号のみを伝送するようになっております。
2021-12-14 / 最終更新日 : 2023-09-05 pe_admin その他測定 コモンモードノイズを簡単に除去する方法とは コモンモードノイズを含んだノイズ測定をする上で、コモンモードノイズを物理的に抑制させる方法はいくつかあります。ここでは、プローブを使う上での問題点と弊社DP-100A差動プローブを使うメリットについてご案内いたします。
2021-11-24 / 最終更新日 : 2023-09-13 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 インダクタンス成分の再現可能な電圧変動模擬電源システム 直流電源にて固有の負荷における変動挙動を再現し、その変動挙動が発生した状態で駆動するDUTの評価では模擬可能な直流電源が必要となります。電圧変動だけであれば定電圧出力時に電圧変動可能な直流電源は市販されておりますが、インダクタンス成分を含んだ電源電圧変動ではインダクタンスへの充放電の模擬も必要となる為再現は困難です。
2021-09-08 / 最終更新日 : 2023-09-05 pe_admin 製品機能紹介 スイッチング電源の寿命判定に最適なリップルノイズメーター リップルノイズメーターRM-104はオシロスコープを使うことなく、簡単にリップル電圧を分離し測定できる為、複雑な操作や個人差による測定誤差なく、SW電源の寿命判定基準となるリップル電圧を測定することが可能です。
2021-08-04 / 最終更新日 : 2023-09-13 pe_admin 安全試験(耐電圧/絶縁抵抗/アース導通） DMMを使用した超高電圧試験時の高分解能電流測定方法 耐電圧試験による絶縁材料や半導体部品の絶縁破壊時の漏れ電流測定において、耐電圧試験器のもつ測定電流仕様を超えた分解能で測定したい場合、DMM(デジタルマルチメーター)をリターン(GND)側へ設置することで、高分解能で電流測定を実施する方法です。 DMMのもつ電流分解能で測定することが出来る為、絶縁破壊付近の電流挙動についてより正確に測定することが可能です。
2021-07-14 / 最終更新日 : 2024-12-03 pe_admin 電子部品/材料/変成器/遮断器試験 ELS-304電子負荷を用いた最適な高速電流応答の実現方法 急峻な高速電流応答（スルーレート：A/μs)のニーズは、DC/DCコンバータ以外に電子部品の評価に使われており、年々その要求は厳しくなっております。電子負荷を用いた方法が使われておりますが、負荷配線や電子負荷内部のインダクタンスの影響で、急峻な電流変化（di/dt）での応答速度が遅くなり、要求される電流応答の波形再現が困難です。
2021-06-16 / 最終更新日 : 2023-09-13 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 電子負荷を用いた半導体レーザや光源LED向けパルス電流発生装置 半導体レーザ（LD)や光源用LEDの駆動には、パルス電流（矩形波）による制御が必要となります。特に半導体レーザでは、μsオーダーの電流パルスを発生させる専用の駆動電源が必要でした。電子負荷LoadStationシリーズは、1μsの電流パルス幅を汎用電源との組合せで再現することが可能です。
2021-04-07 / 最終更新日 : 2023-09-13 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 安全試験器を用いたV-t試験器（AC/DC兼用) 固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社ESTシリーズは連続出力が可能で、アワーメータと組み合わせにより試験時間測定と、破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。モデルによってAC5kVとDC6kVのAC/DC兼用のV-t試験器としてもお使いいただけます。
2021-03-31 / 最終更新日 : 2023-09-05 pe_admin 半導体(パワーデバイス)試験 安全試験器を用いた超高電圧V-t試験器（ACまたはDC) 固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社7700シリーズでは、最大999.9時間×9999ループまで試験時間設定と破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。
