小容量フィルムコンデンサのセルフヒーリングを発生させない耐電圧試験方法
フィルムコンデンサにはセルフヒーリング（自己回復）特性があり、過電圧が印加され誘電体内部で絶縁破壊が発生しても、絶縁状態を自動的に回復する機能があります。
ただし、回復するのは絶縁状態のみであり、コンデンサ内部の ESR（内部抵抗）は増加します。
そのため、コンデンサを用いたモジュール製品において耐電圧試験を実施する際、設定電圧が適切でない場合はセルフヒーリングが発生し、結果として製品寿命に影響を及ぼす可能性があります。
耐電圧試験には AC と DC の 2 種類があります。AC試験では設定電圧の √2 倍のピーク電圧が発生するのに対し、DC試験では設定した電圧がそのままピーク電圧となります。
したがって、DC耐電圧試験では予期せぬ高電圧が生じないため、フィルムコンデンサやモジュール製品の試験に適しています。
解説
特長
- 高さ2Uのハーフラックサイズ。システムラック実装に最適なコンパクト安全試験器
- 高速放電回路(50ms)を内蔵。試験終了時も安心してDUTの交換可能
- ランプアップ・ダウンおよび試験時間をDCW時0.1~999.9秒および連続設定が可能
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