小容量フィルムコンデンサのセルフヒーリングを発生させない耐電圧試験方法

フィルムコンデンサにはセルフヒーリング（自己回復）特性があり、過電圧が印加され誘電体内部で絶縁破壊が発生しても、絶縁状態を自動的に回復する機能があります。
ただし、回復するのは絶縁状態のみであり、コンデンサ内部の ESR（内部抵抗）は増加します。
そのため、コンデンサを用いたモジュール製品において耐電圧試験を実施する際、設定電圧が適切でない場合はセルフヒーリングが発生し、結果として製品寿命に影響を及ぼす可能性があります。
耐電圧試験には AC と DC の 2 種類があります。AC試験では設定電圧の √2 倍のピーク電圧が発生するのに対し、DC試験では設定した電圧がそのままピーク電圧となります。
したがって、DC耐電圧試験では予期せぬ高電圧が生じないため、フィルムコンデンサやモジュール製品の試験に適しています。