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新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。 半導体デバイスの絶縁膜の信頼性に最適な油中電極治具システム 半導体デバイスの絶縁膜信頼性評価には、TDDB試験とV-t試験があり、前者は一定電圧、後者は電圧を変化させて […]

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新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。 半導体デバイスのTDDB試験に最適な超高電圧耐電圧試験器 半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験(経時絶縁破壊試験)が用いられます。この試験は、絶縁膜が電 […]

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