電子部品（電源）
電子負荷を使ったダイオードの可変サージ電流による破壊試験方法
ツェナーダイオードや整流用ダイオードなどの各種ダイオードの電気特性において、逆バイアス時のサージ電流における破壊試験が特性上評価が必要となります。
電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、逆バイアスサージ時のサージ電流と印加時間を任意に設定することで、各種ダイオードの破壊電流を再現することができ、電気特性を正確に評価および試験することが可能です。
電子負荷を使ったヒューズの溶断電流・溶断時間の試験方法
各種ヒューズの電気特性において、時間変化に対する電流耐量の測定が特性上評価が必要となります。電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、溶断電流と溶断時間を任意に設定し、各種ヒューズの電気特性を正確に評価および試験することが可能です。保護素子に関して製品採用時のエビデンスのデータ取得などが簡単にできます。
耐電圧試験器を使った大容量フィルムコンデンサ直流耐電圧試験方法
大容量と高耐圧を武器に幅広く普及するフィルムコンデンサは、応用分野ごと、さらには回路ごとに特性を調整した製品が用意されております。応用分野には電子機器用、電気機器用、自動車・産業機器用などがあり、特に直流用途で使用される自動車用途では高電圧の直流電圧発生装置が必要です。容量が大きい為、電流は数十mA～50mA程度、定格電圧までランプアップ可能な電源装置が必要となります。
交流電子負荷を使ったダイオードやトライアック整流器の模擬
インバータやUPSなどの出力電圧の安定性の試験や評価では、ダイオードやトライアックなどを用いて試験回路を組み上げる為、試験電流や位相制御の調整に多くの手間をかけておりました。特殊負荷モードに対応した交流電子負荷を用いることで、各種パラメータの設定により、半波整流などのダイオード負荷を再現が可能です。
高圧フィルムコンデンサの寿命試験
高圧フィルムコンデンサの試験では、非常に高い高電圧の交流電圧発生装置が必要です。高電圧タイプである為容量は小さく電流は数mA~10mA程度、定格電圧まで出力可能な電源装置を準備し、寿命試験として1000時間連続印加し破壊の有無を確認します。
大容量フィルムコンデンサの寿命試験
大容量フィルムコンデンサの試験では、高電圧の交流電圧発生装置が必要です。容量が大きい為電流は数十m~100mA程度、定格電圧まで出力可能な電源装置を準備し、寿命試験として1000時間連続印加し破壊の有無を確認します。
小容量フィルムコンデンサの寿命試験
小容量フィルムコンデンサの試験では、高電圧の交流電圧発生装置が必要です。容量が小さい為電流は数mA~10mA程度、定格電圧まで出力可能な電源装置を準備し、寿命試験として1000時間連続印加し破壊の有無を確認します。
リップルノイズスキャナSC-83 による多CH測定
市販されている広帯域のスキャナ（信号切り替え器、マルチプレクサ）は、信号電送経路のGND側は共通になっているのが一般的です。広帯域特性を実現するためにはGND側を共通にした方が特性を得やすいためですが、多チャンネル出力のスイッチング電源は各出力のGNDが共通でないものが多いため、市販のスキャナでは問題となる場合があります。
JEITAのスイッチング電源に関する規格RC-9131B
JEITA（Japan Electronics and Information Technology Industries Association）のスイッチング電源試験規格RC-9131Bについてご紹介します。RC-9 […]
JEITA のスイッチング電源に関する規格
JEITA（Japan Electronics and Information Technology Industries Association）は、電子機器、電子部品の健全な生産、貿易及び消費の増進を図ることにより、 […]