電子部品(電源)

安全試験(耐電圧/絶縁抵抗/アース導通)
部品の耐電圧評価に最適なガンタイプ、軽量・可搬型耐電圧試験器

ガンタイプのテストプローブは、トリガボタンを押さない限り電極が露出しない安全な構造で、DUTとの安全な接触が可能です。これにより、耐電圧試験を安全かつ直感的に実施でき、複数ポイントでの絶縁耐力の測定が容易になります。

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製品機能紹介
負荷電流の遅延が発生しないマスタースレーブ並列運転動作

マスタースレーブ並列制御方式では、通信機能を持つRS-422やRS-485などが一般的に使用されています。直流電源では遅延の影響はありませんが、電子負荷では負荷応答が遅延する欠点があります。QL-Dシリーズは、アナログ制御方式とマルチチャンネル同期運転方式を採用し、並列運転時の負荷電流が遅延せず同期して動作することが可能です。

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半導体(パワーデバイス)試験
μsオーダーの電流サージの再現可能な超高速応答電子負荷

半導体部品などの破壊試験やディレーティングの評価において、MOS-FETをON/OFFスイッチとして利用する方法でサージ電流を発生させ試験を実施しておりますが、サージ電流の時間幅や電流など任意の設定が出来ないことや、電流波形にチャタリングが発生してしまう点など、作成したスイッチ回路に様々な工夫が必要となります。超高速電子負荷ELS-304とファンクションジェネレータを用いた方法では、電子負荷側で高速に電流制御を行っている為、チャタリングの発生はなく、また任意の時間幅をファンクションジェネレータ側で設定することが出来る為、μsオーダーの電流サージの再現において最適な方法となります。

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バッテリー(二次電池)試験
無停電電源装置(UPS)の評価に最適。無効電力の再現可能な交流電子負荷

カーエアコン用のコンプレッサーは既存のエンジン駆動タイプに変わり、環境対応車(EV、HEVなど)に対応した、インバータ搭載型の電動コンプレッサーが採用されております。電動型となる為インバータ駆動用の直流電源が試験や評価に必要となります。外付けの場合、設置面積の確保が必要となりますが、弊社直流電源では背面にキャパシタバンクとして指定したコンデンサ容量をランドセルのように特注で実装することが可能です。

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リップルノイズ測定
オシロスコープを使ったリップルノイズの測定方法

オシロスコープでリップルノイズ測定する場合、入力抵抗を1MΩから50Ωにインピーダンス整合する必要があります。ただしオシロに内蔵されている抵抗器は0.5W程度しかなく5V以上の電圧を測定した場合、抵抗器が焼損しオシロが破損してしまうことがあります。
当社TRC-50F2は抵抗器と直列にコンデンサを挿入しており、直流分をカットし測定信号のみを伝送するようになっております。

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その他測定
コモンモードノイズを簡単に除去する方法とは

コモンモードノイズを含んだノイズ測定をする上で、コモンモードノイズを物理的に抑制させる方法はいくつかあります。ここでは、プローブを使う上での問題点と弊社DP-100A差動プローブを使うメリットについてご案内いたします。

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電子部品/材料/変成器/遮断器試験
インダクタンス成分の再現可能な電圧変動模擬電源システム

直流電源にて固有の負荷における変動挙動を再現し、その変動挙動が発生した状態で駆動するDUTの評価では模擬可能な直流電源が必要となります。電圧変動だけであれば定電圧出力時に電圧変動可能な直流電源は市販されておりますが、インダクタンス成分を含んだ電源電圧変動ではインダクタンスへの充放電の模擬も必要となる為再現は困難です。

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製品機能紹介
スイッチング電源の寿命判定に最適なリップルノイズメーター

リップルノイズメーターRM-104はオシロスコープを使うことなく、簡単にリップル電圧を分離し測定できる為、複雑な操作や個人差による測定誤差なく、SW電源の寿命判定基準となるリップル電圧を測定することが可能です。

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安全試験(耐電圧/絶縁抵抗/アース導通)
DMMを使用した超高電圧試験時の高分解能電流測定方法

耐電圧試験による絶縁材料や半導体部品の絶縁破壊時の漏れ電流測定において、耐電圧試験器のもつ測定電流仕様を超えた分解能で測定したい場合、DMM(デジタルマルチメーター)をリターン(GND)側へ設置することで、高分解能で電流測定を実施する方法です。
DMMのもつ電流分解能で測定することが出来る為、絶縁破壊付近の電流挙動についてより正確に測定することが可能です。

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電子部品/材料/変成器/遮断器試験
ELS-304電子負荷を用いた最適な高速電流応答の実現方法

急峻な高速電流応答(スルーレート:A/μs)のニーズは、DC/DCコンバータ以外に電子部品の評価に使われており、年々その要求は厳しくなっております。電子負荷を用いた方法が使われておりますが、負荷配線や電子負荷内部のインダクタンスの影響で、急峻な電流変化(di/dt)での応答速度が遅くなり、要求される電流応答の波形再現が困難です。

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