アプリケーション情報を追加しました

新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。

評価中のDUT破損リスクを低減する電子負荷とは

電子負荷のオーバーシュート電流は、評価中のDUT破損につながる可能性があります。Load Fastシリーズはオーバーシュートを抑えた高品位な電流応答により、DUT破損リスクの低減と安全な評価環境の構築に貢献します。