使用・活用方法
小容量フィルムコンデンサのセルフヒーリングを発生させない耐電圧試験方法
フィルムコンデンサは絶縁破壊が起きても回復するセルフヒーリング機能がありますが、その際に内部抵抗が増加します。
耐電圧試験で電圧設定が不適切だと寿命に影響するため注意が必要です。AC 試験はピーク電圧が高くなるのに対し、DC 試験は設定電圧がそのままピークとなるため、予期せぬ高電圧が発生せず試験に適しています。
低出力DC/DCコンバータに最適な負荷ノイズが発生しない電子負荷
低出力タイプのDC/DCコンバータでは、出力電流が小さいため電子負荷の選定が重要です。一般的な電子負荷はノイズを発生させる場合がありますが、「Load Stationシリーズ」は負荷ノイズを抑え、正確にリップルノイズを測定できるため、評価に最適です。
実環境化におけるI-Vカーブ特性とMPPT特性取得可能な電子負荷
太陽電池（PVパネル）の仕様書は理想環境での値しか記載されておらず、実際の性能は施工後でないと分かりません。
しかし、弊社の電子負荷「Load Station」を使えば、実環境下でのI-V特性や最大電力を測定でき、施工前に性能を把握できます。これにより、発電効率を高めるための設置シミュレーションと正確な評価が可能になります。
PLCを用いたDC耐電圧高速試験システム
3800シリーズのコンパクト安全試験器は、短い試験時間とPLC接点信号による高速合否判定が可能で、複数台の併用により生産ラインの効率を高められます。
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性に最適な油中電極治具システム
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
半導体デバイスのTDDB試験に最適な超高電圧耐電圧試験器
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
過電流および過電力ビルトインテスト機能を搭載したモジュール電子負荷
SW電源の過電流・過電力試験では、それぞれ電流値または電力値の増加を操作パネルでステップ毎に更新し、試験結果の合否を手動またはPCを使った自動で判定しております。ビルトインテスト機能を搭載した3300Fシリーズは、PCレスで試験プログラムを手動で本体へ設定することができます。また合否判定も即座にLCDに表示される為、簡単に過電流および過電力の試験を実施することが可能です。また2ch負荷モジュールも準備しており、4Uサイズのメインフレームに最大8chの電子負荷の実装可能で、コンパクトに多チャンネル電子負荷システムの構築をすることができます。
調光機能を搭載したLED電源試験に最適なLEDモード対応電子負荷
LED電源は定電流出力であり、一般的な電子負荷では正しい試験ができない場合があります。
LEDモード対応の電子負荷を使うことで、内部抵抗や順方向電圧を模擬し、起動特性や調光機能を含めた試験を一括で行うことができます。
AIサーバーデーターセンター用大容量・高電圧・高速応答電子負荷
AIサーバーデータセンターでは、分散電源化や大型ESSの導入が進み、GPU用DC/DCコンバータでも大容量・高電圧・高速応答の電源開発が進展しています。評価試験ではスルーレート対応が課題ですが、KGのQL-Dシリーズは高速応答に適した設計で、要望に応じたカスタム対応が可能です。
信号設備に使用される電灯駆動用単相460V試験用電源
大型ビルや工場で使われる三相4線式電源の試験では入力用電源が必要になります。6700シリーズは単相出力を300～600Vに切り替えられ、三相電源を使わずに線間電圧（415V・460V）を模擬でき、省スペースかつ低コストで試験設備を導入できます。