使用・活用方法
PLCを用いたDC耐電圧高速試験システム
3800シリーズのコンパクト安全試験器は、短い試験時間とPLC接点信号による高速合否判定が可能で、複数台の併用により生産ラインの効率を高められます。
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性に最適な油中電極治具システム
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
半導体デバイスのTDDB試験に最適な超高電圧耐電圧試験器
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
過電流および過電力ビルトインテスト機能を搭載したモジュール電子負荷
SW電源の過電流・過電力試験では、それぞれ電流値または電力値の増加を操作パネルでステップ毎に更新し、試験結果の合否を手動またはPCを使った自動で判定しております。ビルトインテスト機能を搭載した3300Fシリーズは、PCレスで試験プログラムを手動で本体へ設定することができます。また合否判定も即座にLCDに表示される為、簡単に過電流および過電力の試験を実施することが可能です。また2ch負荷モジュールも準備しており、4Uサイズのメインフレームに最大8chの電子負荷の実装可能で、コンパクトに多チャンネル電子負荷システムの構築をすることができます。
調光機能を搭載したLED電源試験に最適なLEDモード対応電子負荷
LED電源は定電流出力であり、一般的な電子負荷では正しい試験ができない場合があります。
LEDモード対応の電子負荷を使うことで、内部抵抗や順方向電圧を模擬し、起動特性や調光機能を含めた試験を一括で行うことができます。
AIサーバーデーターセンター用大容量・高電圧・高速応答電子負荷
AIサーバーデータセンターでは、分散電源化や大型ESSの導入が進み、GPU用DC/DCコンバータでも大容量・高電圧・高速応答の電源開発が進展しています。評価試験ではスルーレート対応が課題ですが、KGのQL-Dシリーズは高速応答に適した設計で、要望に応じたカスタム対応が可能です。
信号設備に使用される電灯駆動用単相460V試験用電源
大型ビルや工場で使われる三相4線式電源の試験では入力用電源が必要になります。6700シリーズは単相出力を300～600Vに切り替えられ、三相電源を使わずに線間電圧（415V・460V）を模擬でき、省スペースかつ低コストで試験設備を導入できます。
大容量蓄電池の放電特性評価に最適な大容量直流電子負荷
大容量蓄電池（LiB）や燃料電池の放電特性を安全に評価するには、電圧や時間などの監視と、放電終了時の状態確認が重要です。
「QL-Dシリーズ」は、Vlimit機能や積算・時間測定機能を備え、設定値に応じた自動モード移行に対応しており、安全で正確な放電評価が可能です。
高電圧の標準切替器として使用可能なマトリックススキャナ
従来、高電圧向けの切替器には標準品がなく、手動操作や特注治具が必要で高コストかつ自動化が困難でした。SC6540シリーズは通信機能を活用することで高電圧切替器として利用可能で、定格AC5kV/DC6kV・3Aまで対応。複数チャンネルを自動で切り替えて試験が行え、モータステータなどに実負荷に近い高電圧・電流を各相に印加することができます。
電源障害に強い長期間連続運転可能な超高電圧V-t試験器
固体絶縁の破壊電圧は印加時間とともに低下するV-t特性があり、その評価にはV-t試験器が用いられます。当社の7700シリーズは超高電圧の連続出力に対応し、試験時間の測定や遮断電流の設定が可能な高機能V-t試験機です。UPSとの併用により、停電時も長期試験データを安全に保持できます。