SiC・GaNなどワイドバンドギャップ半導体の絶縁破壊試験

このアプリでは、ポストSiのパワー半導体としてますます高耐圧化が進んでいるSiC(シリコンカーバイト)とGaN(窒化ガリウム)の耐電圧試験に最適な10kV及び20kVの耐電圧試験器7700シリーズをご紹介します。

SiC・GaN などワイドバンドギャップ半導体の絶縁破壊試験


 

製品情報
製品名 型名 主な仕様
超高電圧耐電圧試験器 7705 AC10kV/20mA/200VA
7710 DC12kV/10mA
7715 AC20kV/10mA/200VA
7720 DC20kV/5mA