アプリケーション情報を追加しました
2025-10-01
新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。 半導体デバイスのTDDB試験に最適な超高電圧耐電圧試験器 半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電 […]
新シリーズ動画公開のお知らせ
2025-09-30
当社Youtubeのフォーますショッピングチャンネルに新規動画を公開致しました。 今回は、安全試験器3800シリーズを実機を使いながら簡潔にご紹介します。ぜひご覧ください！
NEWS LETTER No.53-12を発行致しました
2025-09-24
本日、KG NEWS LETTERを発行致しました。 今月は、新しいWebコンテンツのご案内をいたします。ぜひご覧ください。