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2026-06-17
電子負荷のオーバーシュート電流は、評価中のDUT破損につながる可能性があります。Load Fastシリーズはオーバーシュートを抑えた高品位な電流応答により、DUT破損リスクの低減と安全な評価環境の構築に貢献します。
計測技術研究所はパワエレを通じて環境保全に貢献してまいります
電子負荷のオーバーシュート電流は、評価中のDUT破損につながる可能性があります。Load Fastシリーズはオーバーシュートを抑えた高品位な電流応答により、DUT破損リスクの低減と安全な評価環境の構築に貢献します。