半導体(パワーデバイス)試験
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性に最適な油中電極治具システム
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
半導体デバイスのTDDB試験に最適な超高電圧耐電圧試験器
半導体デバイスの絶縁膜の信頼性評価には、TDDB試験（経時絶縁破壊試験）が用いられます。この試験は、絶縁膜が電圧下で時間とともに劣化し、最終的に絶縁破壊に至る過程を評価する方法です。超高電圧耐電圧試験器「7700シリーズ」は最大20kVまで出力でき、油中・気中電極治具を組み合わせることで、200℃までの高温環境下で加速試験を行うことができます。
バイポーラ電流センサ用高速バイポーラ電流試験システム
要約:
バイポーラ電流の高速応答にはバイポーラ電源の使用が一般的ですが、大電流に対応しにくく、コストも高いという課題があります。そこで、電子負荷の外部制御とファンクションジェネレータを組み合わせて同期運転させることで、SOURCEとSINK動作を高速かつ大電流で切り替える方法が有効です。さらに、この方法は汎用機を使うため、設備の有効活用が可能です。
マルチパワコンとして使用可能な交直両用回生電子負荷
PVパネルからの直流発電を変換するには、パワーコンディショナー（PCS）が必要です。PCSは、PV用やFC用などの専用器具であり、入力範囲や定格電力が決まっています。交直両用回生電子負荷は、MPPTと系統連系規定に準拠しており、交流発電機器の系統連系に利用可能です。
μsオーダーの電流サージの再現可能な超高速応答電子負荷
半導体部品などの破壊試験やディレーティングの評価において、MOS-FETをON/OFFスイッチとして利用する方法でサージ電流を発生させ試験を実施しておりますが、サージ電流の時間幅や電流など任意の設定が出来ないことや、電流波形にチャタリングが発生してしまう点など、作成したスイッチ回路に様々な工夫が必要となります。超高速電子負荷ELS-304とファンクションジェネレータを用いた方法では、電子負荷側で高速に電流制御を行っている為、チャタリングの発生はなく、また任意の時間幅をファンクションジェネレータ側で設定することが出来る為、μsオーダーの電流サージの再現において最適な方法となります。
半導体の絶縁耐力試験に用いる低温（冷凍温度）時の油中試験方法
恒温槽内で使用する油槽治具において冷凍温度以下から室温などの温度サイクル試験をした場合、熱膨張が発生し油槽治具を破損してしまう可能性があります。弊社特注低温油槽治具は本問題点を考慮し、ACまたはDC20kV出力可能な耐電圧試験器と-50℃まで測定可能な温度測定器とあわせたシステムとして、低温時（冷凍温度下）の絶縁耐力試験環境を構築することが可能です。
電子負荷を用いた半導体レーザや光源LED向けパルス電流発生装置
半導体レーザ（LD)や光源用LEDの駆動には、パルス電流（矩形波）による制御が必要となります。特に半導体レーザでは、μsオーダーの電流パルスを発生させる専用の駆動電源が必要でした。電子負荷LoadStationシリーズは、1μsの電流パルス幅を汎用電源との組合せで再現することが可能です。
安全試験器を用いたV-t試験器（AC/DC兼用)
固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社ESTシリーズは連続出力が可能で、アワーメータと組み合わせにより試験時間測定と、破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。モデルによってAC5kVとDC6kVのAC/DC兼用のV-t試験器としてもお使いいただけます。
安全試験器を用いた超高電圧V-t試験器（ACまたはDC)
固体絶縁の破壊電圧は、電圧印加時間とともに低下するという現象(V-t特性)は、古くから知れており、試験に使用されるV-t試験器は印加電圧(V)と絶縁破壊の起きる時間(t)を測定することで寿命推定データを得ることができます。弊社7700シリーズでは、最大999.9時間×9999ループまで試験時間設定と破壊時の遮断電流を任意の電流で設定することができ、高機能なV-t試験機として使用することが可能です。
半導体直流パラメータの簡易測定
このアプリでは、汎用の直流電源、電子負荷等を使った半導体直流パラメータの簡易的な測定方法についてご紹介します。直流電源と電子負荷により駆動電流を急峻に変化させる試験（短パルス評価）、さらにFG（ファンクションジェネレータ）により電子負荷を制御し、サイン波形での試験（サイン半波評価）を行うことができます。