アプリケーション情報を追加しました

新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。

半導体デバイスの絶縁膜の信頼性に最適な油中電極治具システム

半導体デバイスの絶縁膜信頼性評価には、TDDB試験とV-t試験があり、前者は一定電圧、後者は電圧を変化させて絶縁破壊までの時間を測定します。油中電極治具システムは両試験に対応しています。