アプリケーション情報を追加しました

新規アプリケーションとして以下を追加いたしました。

電源障害に強い長期間連続運転可能なV-t試験器

固体絶縁の破壊電圧は印加時間が長くなると低下する現象（V-t特性）が知られており、V-t試験器を用いて寿命データを取得できます。
当社の3800シリーズは連続出力が可能で、アワーメータやUPSとの連携により、長時間・高信頼な試験が可能です。