半導体直流パラメータの簡易測定
このアプリでは、汎用の直流電源、電子負荷等を使った半導体直流パラメータの簡易的な測定方法についてご紹介します。直流電源と電子負荷により駆動電流を急峻に変化させる試験（短パルス評価）、さらにFG（ファンクションジェネレータ）により電子負荷を制御し、サイン波形での試験（サイン半波評価）を行うことができます。
試験装置構成例
- 短パルス評価 : 10usec 単発パルスでのサージ耐性評価
- サイン半波評価 : 10msec(50Hz) と3msec(166.7Hz) のサイン半波単発でのサージ耐性評価
※加熱用のヒーターを追加することにより高温での評価も可能です。
製品情報
ハイエンド多機能電子負荷「Load Stationシリーズ」
本アプリケーションに記載された情報は作成発行当時（発行年月日）のものとなりますので、現行としてシリーズ・機種・型式(オプション含む）が変更（後継含め）及び販売終了品による廃型になっているものが含まれておりますので、予めご了承下さい。
本情報はテストソリューションにおけるDUT（供試体）・JIG及び当社製品のアプリケーション構成フローのご参考としてご覧下さい。
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