電子負荷を使ったダイオードの可変サージ電流による破壊試験方法

ツェナーダイオードや整流用ダイオードなどの各種ダイオードの電気特性において、逆バイアス時のサージ電流における破壊試験が特性上評価が必要となります。
電子負荷Load StationシリーズのDynamicモードを使用することで、逆バイアスサージ時のサージ電流と印加時間を任意に設定することで、各種ダイオードの破壊電流を再現することができ、電気特性を正確に評価および試験することが可能です。
保護素子に関して製品採用時のエビデンスのデータ取得などが簡単にできます。