大容量フィルムコンデンサのセルフヒーリングを発生させない耐電圧試験方法
フィルムコンデンサにはセルフヒーリング（自己回復）の特性があり、過電圧が印加されて誘電体内で絶縁破壊が起きても、絶縁状態を回復する機能があります。
ただし、絶縁状態を回復するだけで、コンデンサ内部のESR（内部抵抗）は増加します。コンデンサを用いたモジュール製品の場合、耐電圧試験を実施するうえで最適な設定電圧でないとセルフヒーリングが発生し、製品寿命に影響を及ぼします。
耐電圧試験にはACとDCの2種類があり、ACの場合は設定電圧の√2倍のピーク電圧が発生し、DCの場合は設定した電圧がそのままピーク電圧となります。
したがって、DC耐電圧試験では予期せぬ電圧が発生しないため、フィルムコンデンサやモジュール製品の試験に最適です。
解説
特長
- 大容量フィルムコンデンサの直流耐電圧試験に最適なDC6KV/50mAをオプションで準備
- 高速放電回路(50ms)を内蔵。試験終了時も安心してDUTの交換可能
- ランプアップ・ダウンおよび試験時間をDCW時0.4~999.9秒および連続設定が可能荷
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