ジャンクション温度関連アプリ

パワーデバイス評価には、専用器での実験が必要とされておりましたが、汎用電子負荷と電源を使用することで簡単に過渡応答実験をすることができます。

 

【 ジャンクション温度における半導体の過渡応答試験 】

パワー半導体の評価装置として汎用機器(電子負荷・電源)で構成した電流サージ試験装置です。半導体パラメータなどの専用機器とは違い、電流サージ試験を行なわない場合単体の負荷や電源として使用可能です。接続治具にはヒーターも装備し実際のジャンクション温度まで上げて試験することができるようになっております。またFGを使い任意の電流パターンを発生させ、半導体の電流サージ印加試験をすることができます。

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  • 試験仕様(上記システムで以下の試験が可能です)
    短パルス評価 :10usec単発パルスでのサージ耐性評価
    サイン半波評価 :10msec(50Hz)と3msec(166.7Hz) のサイン半波単発でのサージ耐性評価

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