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No.02 半導体の高電圧I-V特性

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半導体試験

半導体のI-V 特性はカーブトレーサなど専用の高価な測定器が必要とされていましたが、多機 能安全試験器7730 を使うことによりカーブトレーサではできなかった5kV までの高電圧I-V 特性の計測が可能です。もちろん絶縁耐圧や絶縁抵抗試験などの一般的な安全試験器としても 使用することができますので1 台2 役のご使用も可能となっております。




半導体の高電圧I-V 特性計測の構成例

  • 最大5kV までの検査が可能
  • 最小0.1μ A 分解能での高精度電流測定が可能
  • 低価格(カーブトレーサーと比較して1/10 程度)


最大印加電圧 DC5kV( 負荷容量0.04 μ F 以下)
※ 50 メモリ× 30 ステップ( 最大1500 ステップ)を1.0V 分解能で設定可能
測定電流分解能 0.1 μA( レンジ0.0 ~ 350.0 μA)
測定確度 ±(2% of reading + 2counts)

※ PC により自動化する場合、別途コントロールソフトウエアが必要となりますが、弊社ではLabVIEW による 各種アプリケーションの作成も承っておりますので、どうぞお気軽にお問い合わせ下さい。



製品名 型名 特長 標準価格(税別)
多機能安全試験器 7730 AC/DC 耐電圧試験、絶縁抵抗測定 ¥ 367,000
7730 用オプション Opt.731 GP-IB インターフェース ¥ 32,000